Menú
Noticias
Mercado
Patentes
Artículos
Eventos
Legislación
Ayudas
Normativa
Convocatorias
Iniciar sesión
Dual floating probe technique for extraction of contact resistance in organic thin-film transistors using low and high-k dielectric
Fecha de publicación:
--
Fuente:
Materials
Graphical Abstract
Volver
×
Iniciar sesión
Email
Contraseña
¿Ha olvidado su contraseña?
Iniciar sesión
No tengo cuenta de usuario